Resistividad y Mecanismos de Conducción Dependientes de la Temperatura en Capas Delgadas de NiO Codopados con Co y F
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Palabras clave

NiO
capas delgadas
codopaje con Co y F
TCO
Método del Spray Neum´ático

Cómo citar

(1)
Resistividad Y Mecanismos De Conducción Dependientes De La Temperatura En Capas Delgadas De NiO Codopados Con Co Y F. Rev. Cubana Fis. 2026, 43 (1), 32-39.

Resumen

Se depositaron exitosamente películas delgadas de NiO codopadas con Co y F sobre sustratos de vidrio utilizando el método de deposición por aspersión neumática a 420 ᵒC. Se investigó la influencia de la temperatura (T) y las concentraciones de dopantes en las propiedades eléctricas y ópticas. Las mediciones eléctricas se realizaron en dos etapas, evaluando el voltaje y la corriente en el rango de temperatura de 30-180 ᵒC. La temperatura afectó tanto al voltaje como a la corriente, observándose que temperaturas más altas conducen a una respuesta eléctrica mejorada. La resistividad eléctrica más baja se obtuvo para la película dopada con 2 % de Co y 12 % de F. El análisis óptico reveló que las películas exhibieron una alta transparencia en la región visible. Además, el gap de energía óptica aumentó con el incremento de las concentraciones de Co y F en todas las muestras. Se observó una energía de Urbach mínima de 0.342 eV para la película que contenía 2 % de Co y 8 % de F, lo que indica una reducción en los estados localizados dentro de las colas de banda y una mejora en la calidad óptica.

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