Palabras clave
Microestructura
Defectos cristalinos
Análisis de Fourier
Materiales ferroeléctricos
Cómo citar
Resumen
El artículo presenta un estudio sobre los efectos de coherencia y de pared de dominio en el perfil de determinados máximos de difracción de rayos X (DRX) del sistema ferroeléctrico Pb0.92Ln0.08TiO3 (Ln3+ = La3+, Dy3+). El análisis se centra en el ensanchamiento y la asimetría dependientes de hkl de ciertos picos de difracción. El estudio se realizó utilizando un modelo de difracción evaluado con parámetros determinados experimentalmente mediante DRX y microscopía electrónica de transmisión. Los resultados muestran que tanto los efectos de coherencia como la dispersión de pared de dominio contribuyen significativamente a las asimetrías de los picos y a la intensidad difusa entre los dobletes (h00)/(00h). Los resultados también muestran que estos efectos son sensibles al tamaño del dominio y es más pronunciado en reflexiones de orden inferior. La elección del dopante afecta directamente a los parámetros microestructurales. El estudio destaca la complejidad de cuantificar las microestructuras ferroeléctricas únicamente a partir de datos de difracción.
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